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WHAT WE DO? 半導體/晶圓

我們的 XRF塗層厚度測量系統=> 測量這些半導體表面處理

 

  • 錫/錫合金

M系列

為小測點(15μmFWHM)分析提供無與倫比的精度;在極短時間內測量厚度小於1μ英寸時,相對標準偏差容仍小於1%。

W系列

使用多毛細管光學器件將X射線束聚焦到7.5μmFWHM,這是世界上使用XRF技術進行塗層厚度分析的最小光束尺寸。
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