XRF膜厚分析儀

 XRF對金屬元素最為敏感,特別是元素週期表上Ti-U的元素。對於塗層厚度分析,XRF可以應用於任何金屬或非金屬基材上的單層或多層金屬塗層。對於合金分析,XRF可以確定每個合金元素的%組成,甚至可以確定合金等級號。對於溶液分析,溶液中的金屬離子可以在電鍍槽中進行定量以進行過程控制。
B系列:固定檯面型
Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的探測器和複雜的軟件,Bowman單元還可以了解樣品中存在哪些元素。儀器可以同時測量多達五層塗層,其中兩層可以是合金。

XRF對金屬元素最為敏感,特別是元素週期表上Ti-U的元素。對於塗層厚度分析,XRF可以應用於任何金屬或非金屬基材上的單層或多層金屬塗層。對於合金分析,XRF可以確定每個合金元素的%組成,甚至可以確定合金等級號。對於溶液分析,溶液中的金屬離子可以在電鍍槽中進行定量以進行過程控制。

主要優點包括:

1. 無損檢測,樣品製備最少
2. 快速分析 – 期望在幾秒鐘內有分析數據
3. 廉價操作:無需專門科學家即可由新手操作
4. 通用技術可以測量不同類型的基質樣品
5. 大樣本的微特徵的小點分析
6. 同時分析大部分金屬元素
7. 通過各種工業驗證測試認可的方法

BOWMAN B系列
● 用於塗層厚度測量的高性能XRF分析儀專門設計用於緊固件上的防腐蝕電鍍塗層
● Bowman X-ray系統是用於測量底材上塗層厚度的精密台式儀器。通過我們專門的檢測技術和先進的軟體,我們還可以了解樣品中存在哪些元素。
● 它使用專門設計的微點聚焦X射線管作為能量源,溫度穩定的矽PIN二極管作為檢測器和寬帶寬多通道放大器來對輻射光子進行分類和計數。
● Bowman Xralizer軟體使用獨特的軟體算法,從檢測到的特性光中識別和測量材料的厚度。
● 使用與x射線光學軸對齊的微焦點攝像機來精確選擇要測量的樣品上的面積。 由聚焦雷射手動或自動控制的升降機適應不同高度的測量樣品。
產品規格元素範圍:鈦22至鈾92
X射線激發:50W(50kV和1mA)微聚焦W陽極管
檢測器:具有190eV分辨率或更好的矽固態檢測器
分析層和元素數量:每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達25個元素
濾波器/准直器:4個主濾波器/單個電動准直器
焦距深度:雷射固定焦距(可選多焦點)
數字脈衝處理:4096 CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦:Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10 Professional 64bit等效
相機光學:1/4“CMOS-1280×720 VGA分辨率
電源150W,100〜240V,頻率範圍47Hz〜63Hz
重量:34kg
標準電動/可編程XY:自動台面尺寸:不可用
擴展可編程XY:自動台面尺寸:不可用內部尺寸:高度:140mm(5.5“),寬度:310mm(12”),深度:335mm(13“)
外部尺寸:高度:450 mm(18“),寬度:450 mm(18”),深度:600 mm(24“)

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